分立器件動態參數測試系統適用碳化硅二極管、IGBT模塊、MOS管等器件的時間參數測試。主要技術參數：IGBT 開關特性測試????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????開關時間測試條件IC:1A~1000A????? Vce:5V~3500V(可擴展）Vgs:-10V~+20V Rg:1R~100R可調（可選擇4檔及外接）負載：感性負載阻性負載可切換電感范圍：100uH,200uH,500uH,1000uH電阻范圍：0.5R、1R、2R、分立器件動態參數測試系統